原創(chuàng)|使用教程|編輯:龔雪|2015-12-18 13:21:34.000|閱讀 543 次
概述:關(guān)于Parasoft C / C ++test的嵌入式單元測(cè)試實(shí)踐,本文主要介紹了單元測(cè)試的安全標(biāo)準(zhǔn)。
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根據(jù)IEC-61508-3定義的單元測(cè)試完整性水平在下表中進(jìn)行了總結(jié),如下:
表中引用的技術(shù)/測(cè)量描述由IEC-61508-3標(biāo)準(zhǔn)定義。例如:(表A.3:1)參照IEC-61508-3,表A.3,技術(shù)1。
C++test功能 | SIL | |||
A | B | C | D | |
單元測(cè)試模塊 - 通用 | ||||
單元測(cè)試執(zhí)行(表A.5:4,表A.7:3) | HR | HR | HR | HR |
自動(dòng)生成單元測(cè)試模塊 | ||||
自動(dòng)生成單元測(cè)試采用邊界值(表B.2:1,表B.3:3) | R | HR | HR | HR |
準(zhǔn)備輸入?yún)?shù)的值組,所使用的工廠(chǎng)函數(shù)(表B.2:5) | R | R | R | HR |
采用的隨機(jī)輸入組合(表A.5:1) | R | R | HR | |
測(cè)試管理模塊 | ||||
使用用戶(hù)定義的測(cè)試案例測(cè)試 | HR | HR | HR | HR |
使用數(shù)據(jù)源,以有效地提供多種輸入 | HR | HR | HR | HR |
使用測(cè)試用例管理器來(lái)管理測(cè)試用例和審查測(cè)試用例狀態(tài)(表A.5:2) | R | HR | HR | HR |
C++test功能 | SIL | |||
A | B | C | D | |
功能存根 | ||||
利用存根來(lái)控制執(zhí)行測(cè)試的流程,以滿(mǎn)足給定的條件 (表A.5:4) | HR | HR | HR | HR |
使用功能存根來(lái)代替自動(dòng)單元測(cè)試執(zhí)行用戶(hù)界面(表A.5:6) | R | R | HR | HR |
使用存根提供故障條件測(cè)試(表B.2:2) | R | R | R | R |
覆蓋模塊 | ||||
針對(duì)結(jié)構(gòu)測(cè)試,分析語(yǔ)句,分支和MC/ DC代碼覆蓋率(表B.2:6) | R | R | HR | HR |
值得一提的是,IEC-61508在第二版中的改進(jìn)很大。例如,在第一版本表B.2,技術(shù)6的引用的是一般的基礎(chǔ)測(cè)試結(jié)構(gòu)。在第二版中,表B.2有新增了(7A到7D)特定結(jié)構(gòu)的測(cè)試覆蓋類(lèi)型并要求100%的覆蓋率,這取決于SIL數(shù)目。
IEC-61508不是唯一于功能安全相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。有一些衍生自IEC-61508標(biāo)準(zhǔn),用來(lái)解決特點(diǎn)行業(yè)的細(xì)節(jié),而另一些是獨(dú)立于它的。有一些更為嚴(yán)格(例如,與機(jī)載系統(tǒng)相關(guān)),而另一些則較為寬松。但是基本概念是相似的,所以單元測(cè)試已經(jīng)被證明是必不可少的。下面我們簡(jiǎn)短的講一下其他的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),具體詳情請(qǐng)自行參閱相關(guān)文件或咨詢(xún)專(zhuān)家。
ISO/DIS-26262
符合IEC-61508標(biāo)準(zhǔn),適用于道路車(chē)輛的電子/電氣系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)。
ASIL(汽車(chē)安全完整性等級(jí))
這是由ISO/ DIS-26262定義的標(biāo)準(zhǔn),等價(jià)于SIL。它規(guī)定了必要的安全措施,以避免意外的風(fēng)險(xiǎn)殘余。用D 代表最嚴(yán)格的級(jí)別,A代表最寬松的級(jí)別。
DO-178B/C
飛機(jī)和發(fā)動(dòng)機(jī)上使用的機(jī)載系統(tǒng)和設(shè)備軟件標(biāo)準(zhǔn)。
IEC-60880-2
符合IEC-61508標(biāo)準(zhǔn),適用于核電廠(chǎng)安全系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)。
EN-5012X/EN-50128/EN-50129
符合IEC-61508標(biāo)準(zhǔn),適用于軌道交通。
誠(chéng)然,單元測(cè)試是需要投入成本的,但它是必不可少的。對(duì)于嵌入式單元測(cè)試來(lái)說(shuō),增加了更多的困難,這可以使用本文中所討論的方式來(lái)解決。
單元測(cè)試會(huì)為您帶來(lái)很多益處,如幫助您創(chuàng)建更好的代碼,建立回歸測(cè)試套件,實(shí)現(xiàn)所需的安全完整性等級(jí),或獲取DO-178B認(rèn)證。
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